于PEEK紅外光譜圖中，主要特征吸收峰包括：1) 于約3430 cm?1處寬吸收帶，這是因為PEEK主鏈上亞甲基(CH?)、次甲基(CH)OH伸縮振動引起；2) 于1600 cm?1左右存于一個強吸收峰，這對應于芳環上C=C雙鍵面內彎曲振動；3) 12001000 cm?1區間內吸收峰，則是由PEEK主鏈中COC醚鍵不對稱伸縮振動所貢獻。
另外，于1450 cm?1附近還有一個較弱但明顯吸收峰，這反映了PEEK分子中存于甲基(CH?)或亞甲基(CH?)對稱變形振動模式。這些特征吸收峰存于不僅能夠幫助大伙兒確認PEEK身份，還能進一步揭示其純度及也許存于改性狀況。
通過對PEEK材料進行紅外光譜測試，并結合標準圖譜數據庫進行比對分析，可以很好評估樣品質量控制、生產過程監控還有新產品開發工作。紅外光譜技術以其快速、準確特點，于PEEK材料研究和用途行業中發揮著很大作用。
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